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        微量元素含量測試方法有哪些?

        在人體中含量低于 0.01%的元素稱為微量元素。現在現已知的微量元素有16種,它們是:鋅(Zn) 銅(Cu)鈷(Co)鉻(Cr)錳(Mn)鐵(Fe)砷(As)硼(B)硒(Se)鎳(Ni)錫(Sn)硅(Si)氟(F)釩(V)鉬(Mo)。
         
        微量元素含量查驗辦法的挑選,近年來,元素含量查驗儀器打開非常活絡,常見的查驗儀器有原子反射光譜法(AES)、原子吸收光譜法(AAS)、X射線熒光光譜法(XRF)、電感耦合等離子體原子發射光譜(ICP-AES)和質譜(ICP-MS)等,因為各個儀器的技能辦法存在局限性,怎樣對待測元素“因地制宜”尤為重要。下面首要從元素含量查驗儀器原理、適用規劃兩個方面作簡明介紹。
         
        1.原子發射光譜(AES)
         
        原子發射光譜法是通過丈量被激起而躍遷到高價態電子的辦法。激起的辦法有:一般直流電弧、操控氣直流電弧、交流電、其他火花源和電感耦合等離子體等。在元素濃度大于1%時,橡Fe/Ti/Zr就可能產生干擾,每個元素的譜線有必要與標準譜圖細心核對,才調做出半定量說明。
         
        2.原子吸收光譜(AAS)
         
        原子吸收光譜是將樣品溶解制成溶液,經火焰激起,使元素產生原子蒸騰狀況而得以完畢的。如樣品含有有機組分多,溶液含酸過量以及某些物質不溶解則會對查驗構成干擾,然后使作用產生過錯。
         
        3.中子活化剖析(NAA)
         
        它是建立在誘導放射性勘探根底上的,期剖析根底是核反應。將所測樣品和標準樣品一同放在中子流中照耀,使安穩的原子核轉變為放射性的原子核,然后丈量樣品的γ射線強度,然后進行元素的定量剖析。中子活化剖析常用于剖析煤及其相關物質。
         
        4.X射線熒光光譜(XRF)
         
        X射線熒光光譜法的根底是各種元素在遭到外界要素激起時所宣告特征X射線,其波長或能量與被激起的元素的原子序數成正比,在必定條件下特征X射線的強度與被激起的元素的濃度成正比。X射線熒光光譜分為兩種,一種是波長色散的,一種是能量分散的。前者較為活絡但也較為貴重。X射線熒光光譜適用于煤灰等礦藏的元素剖析,樣品一般需求研磨至75μm,加輔料做成小圓片以備查驗,或制成玻璃狀溶結片。依據查驗的元素挑選好放射源,詳細有Mo管或Co管。XRF法對周期表原子序數1-9的元素不能查驗,對一些氣態元素和原子序數大于92的元素也不能查驗。
         
        5.火花源質譜(SSMS)
         
        該辦法特征具有活絡且一同查驗許多元素、基質效應小、可測元素較廣(如Cd/Cu/Hg/Ni/Pb/Zn這些用儀器中子活化法不容易測的但能夠用火花源質譜法測得)的利益。火花源質譜法可不必將樣品溶解而直接查驗,這樣能夠削減樣品制備時間和污染以及物質丟掉。
         
        6.電感耦合等離子體原子發射光譜(ICP-AES)和電感耦合等離子體質譜(ICP-MS)
         
        電感耦合為激起源、原子化設備或離子源的一類新式光譜法。與經典的光譜法比較,ICP-AES具有檢出限高、準確度高、體系過錯小、干擾水平低、線性剖析規劃較寬等特征,一條標準曲線能夠剖析從痕量到濃度較大的各種元素。
         
        ICP-MS是80年代打開起來的一項新技能,等離子體作為質譜剖析的離子源,試樣在離子源電離后產生各種帶正電荷的離子,它們在加速電場作用下,構成粒子束射入質量剖析器。在質量剖析器中,在磁場作用下將各個不同質荷比的離子分隔,然后記載體系獲得質譜圖,依據質譜圖上的各譜線方位及相應離子電荷數進行定性剖析,按相應離子強度進行定量剖析,它能夠剖析原子量7-252的全部元素及其同位素,比較于ICP-AES,具有光譜干擾小,剖析速度快,可連續操作,檢出限更低一級特征。經歷上,ICP-MS關于查驗 5mg/ kg以下元素含量比較準確而ICP-AES關于查驗5mg/ kg以上元素含量較為準確,即MS是ppb等級,AES是ppm等級。
         
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